Warning: file_put_contents(/home/kpsjxzkop6svjbx/wwwroot/source/cache/license_cache.php): failed to open stream: Permission denied in /home/kpsjxzkop6svjbx/wwwroot/source/model/api.class.php on line 217
真空探针台可在高真空、宽温域的环境下,对晶圆、芯片、各类功能材料开展多阁维度的非破坏性测试,核心具体功能分为以下几类:
一、核心电学测试功能
这是真空探针台基础的核心能力,可在DC至67GHz的宽频率范围内完成多类电学参数表征:
基础特性测试:支持I-V(电流-电压)、C-V(电容-电压)、R-T(电阻-温度)、R-I(电阻-电流)、Cp-D(电容-损耗)、介电常数等参数的准确测量,漏电流检测精度可低至10fA,适配微弱信号的采集需求。
特殊电学测试:可完成脉冲/动态I-V、射频阻抗匹配、霍尔效应及磁输运性质测试,部分带强磁场配置的型号还能开展超导材料、自旋电子器件的低温量子输运特性验证。
二、热学与环境模拟测试功能
依托宽温域温控样品台,可在-196℃~1000K的超宽温度区间内开展测试:
可实现不同温度下的器件性能稳定性验证,比如功率器件高温可靠性评估、超导材料临界转变温度测定,同时真空环境能避免低温测试时样品表面结霜、高温测试时样品氧化,保障测试数据的准确性。
部分型号支持气敏测试,可在真空腔体中通入特种气体,完成气敏元器件在不同温度、不同气体氛围下的性能响应测试。
三、光学与光电测试功能
真空探针台的腔体顶部预留光学视窗与透光孔,可直接对样品台的待测件进行打光测试:
支持真空环境下的光电效应、宽波段光电探测、太阳能电池光电转换效率等同步测试,可外接光谱仪、锁相放大器等设备,实现光信号与信号的同步采集,适配光电器件、光电材料的性能表征需求。
